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      熒光X線膜厚計報價

      熒光X線膜厚計報價
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      供應數量:
      726
      發布日期:
      2024/7/8
      有效日期:
      2028/11/18
      原 產 地:
      中國台灣
      已獲點擊:
      726
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        [詳細資料]

      熒光X線膜厚計

      采用中文視窗操作測量係統
      解析度0.001μm
      小測量麵積0.1mmφ
      熒光X線膜厚計可測量合金層之厚度和組成比例
      熒光X線膜厚計可測量兩層以上鍍層之個別厚度
      籍由光譜分析可判定被測物之元素
      適用對象:IC導線架、封裝業、PCB業、精密零件業、電鍍業、電子業

       

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